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簡要描述:日本advanced 厚度/膜厚/光學(xué)常數(shù)測量裝置 ETA-TCM這是一種測量納米級薄膜厚度的裝置。其特點(diǎn)是快速、非接觸、能夠高精度地進(jìn)行大面積測量。
品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
---|---|---|---|
應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
日本advanced 厚度/膜厚/光學(xué)常數(shù)測量裝置 ETA-TCM
這是一種測量納米級薄膜厚度的裝置。其特點(diǎn)是快速、非接觸、能夠高精度地進(jìn)行大面積測量。
特長:
反射/透射光譜測量
測量基材上單層薄膜的 n/k(光學(xué)常數(shù))
基材上堆疊的每層薄膜的膜厚(最多3層)
各膜層光學(xué)模型及參數(shù)可調(diào)
受光部波長帶(320nm~1700nm)
配備自動校準(zhǔn)功能
支持高速測量、卷對卷、在線測量
應(yīng)用:
1.電子產(chǎn)品
顯示/照明/半導(dǎo)體/OLED等
實(shí)例:AR/防指紋膜/防污膜/阻隔膜/硬涂層/絕緣/TFT等。
2.汽車
醫(yī)療器械/藥品/細(xì)胞/小瓶等
實(shí)例:AR/防指紋膜/防污膜/阻隔膜/硬涂層/隔膜等。
3.生物醫(yī)學(xué)
顯示/照明/半導(dǎo)體/OLED等
實(shí)例:SiO2涂層/醫(yī)用薄膜等。
4.其他的
太陽能電池/鋰電池/鏡頭/飲料容器/光盤等
實(shí)例:阻隔膜/硬涂層/SiO2涂層/聚碳酸酯/隔膜等。
日本advanced 厚度/膜厚/光學(xué)常數(shù)測量裝置 ETA-TCM
這是一種測量納米級薄膜厚度的裝置。其特點(diǎn)是快速、非接觸、能夠高精度地進(jìn)行大面積測量。
特長:
反射/透射光譜測量
測量基材上單層薄膜的 n/k(光學(xué)常數(shù))
基材上堆疊的每層薄膜的膜厚(最多3層)
各膜層光學(xué)模型及參數(shù)可調(diào)
受光部波長帶(320nm~1700nm)
配備自動校準(zhǔn)功能
支持高速測量、卷對卷、在線測量
應(yīng)用:
1.電子產(chǎn)品
顯示/照明/半導(dǎo)體/OLED等
實(shí)例:AR/防指紋膜/防污膜/阻隔膜/硬涂層/絕緣/TFT等。
2.汽車
醫(yī)療器械/藥品/細(xì)胞/小瓶等
實(shí)例:AR/防指紋膜/防污膜/阻隔膜/硬涂層/隔膜等。
3.生物醫(yī)學(xué)
顯示/照明/半導(dǎo)體/OLED等
實(shí)例:SiO2涂層/醫(yī)用薄膜等。
4.其他的
太陽能電池/鋰電池/鏡頭/飲料容器/光盤等
實(shí)例:阻隔膜/硬涂層/SiO2涂層/聚碳酸酯/隔膜等。